一六荧光测厚仪十年以上研发团队集研发生产销售一体元素分析范围:氯(CI)-铀(U)厚度分析范围:各种元素及有机物一次可同时分析:23层镀层，24种元素厚度检出限:0.005umX荧光测厚仪可调整测量位置，非常敏捷快速。或是测量位置已完成登陆时，可连续自动测定，利用座标补正、连结频道，来应付各种测量轨迹。亦可用自动测定来作标准片校正。测定部显示尽像的表示：***照射部可由WINDOWS画面上取得照射部的表示。从准仪照射测定物的位置，涂层测厚仪，可由倍率率更机能来实现尽面上测出物放大。。。一六仪器**测厚仪多道脉冲分析采集，**EFP算法X射线荧光镀层测厚仪应用于电子元器件，镀层膜厚仪，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准**决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题上照式：通常都有Z轴可移动，所以可对形状复杂的样品（如凹面内）做**并且测试，一般可**到2mm以内的深度，如Thick800A，另外有些厂商在此基础上配备了可变焦装置，搭配**的算法，可**到80mm以内的深度，如XDL237下照式：通常都没有Z轴可移动，所以不可对凹面等无法直接接触测试窗口的位置进行**并测试，但操作简单，造价相对低；部分厂商或款式仪器搭载变焦装置也可测试复杂形状样品，同时也抬高了价格江苏一六仪器**涂镀层研发、生产、销售高新技术企业。其中稳定的多道脉冲分析采集系统、**的解谱方法和EFP算法结合精准**及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。单镀层：Zn，光谱膜厚仪，Ni，Cr，测厚仪，Cu，Ag，Au，Sn等。双镀层：Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。三镀层：Au/Ni/Cu/ABS，Au/Ag/Ni/Cu，Au/Ni/Cu/Fe，等等一、功能1.采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度，测量方法满足GB/T16921-2005标准（等同ISO3497：2000、ASTMB568和DIN50987）。2.镀层层数：多至5层。3.测量点尺寸：圆形测量点，直径约0.2—0.8毫米。4.测量时间：通常30秒。5.测量误差：通常小于5%，视样品具体情况而定。6.可测厚度范围：通常0.01微米到30微米，视样品组成和镀层结构而定。镀层膜厚仪-测厚仪-江苏一六仪器有限公司(查看)由江苏一六仪器有限公司提供。“测厚仪,标准片”就选江苏一六仪器有限公司，公司位于：江苏省昆山市玉山镇成功路168号，多年来，一六仪器坚持为客户提供好的服务，联系人：邓女士。欢迎广大新老客户来电，来函，亲临指导，洽谈业务。一六仪器期待成为您的长期合作伙伴！)