一六荧光测厚仪十年以上研发团队集研发生产销售一体元素分析范围:氯(CI)-铀(U)厚度分析范围:各种元素及有机物一次可同时分析:23层镀层，24种元素厚度检出限:0.005umX射线荧光镀层厚度分析仪基本原理X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对X射线荧光的分析确定被测样品中各组分含量的仪器就是X射线荧光分析仪。由原子物理学的知识，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以其特有的能量在各自的固定轨道上运行。内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚，成为自由电子，电镀测厚仪，这时原子被激发了，处于激发态。此时，其他的外层电子便会填补这一空位，即所谓的跃迁，同时以发出X射线的形式放出能量。X射线荧光镀层厚度分析仪基本原理由于每一种元素的原子能级结构都是特定的，它被激发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的，涂层测厚仪，称之为特征X射线。通过测定特征X射线的能量，上海测厚仪，便可以确定相应元素的存在，而特征X射线的强弱（或者说X射线光子的多少）则代表该元素的含量。江苏一六仪器X射线荧光光谱测厚仪产品配置***金属镀层测厚仪标准配置为：X射线管，正比计数器﹨半导体探测器，高清摄像头，高度激光，信号检测电子电路。性能指标X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管，Be窗标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等X射线管：管电压50KV，管电流1mA可测元素：CI～U检测器：正比计数管样品观察：CCD摄像头测定软件：薄膜FP法、检量线法Z轴程控移动高度20mm一六仪器**测厚仪多道脉冲分析采集，**EFP算法X射线荧光镀层测厚仪应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，镀层测厚仪，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准**决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题XTU-A、XTU-50A：五金产品、紧固件、汽车配件、卫浴等，测量面积大于?0.2mm的产品?XTU-BL：主要针对线路板等大平面，但是需要测试?0.1mm以下，且求购仪器预算较低的客户。?XTU-50B、XTU-4C：可测试小至?0.05mm测量面积，且搭载的精密移动平台和变焦镜头（XTU全系列都含有）能满足各种需求。镀层测厚仪-上海测厚仪-一六仪器由江苏一六仪器有限公司提供。江苏一六仪器有限公司是江苏苏州,专用仪器仪表的企业，多年来，公司贯彻执行科学管理、创新发展、诚实守信的方针，满足客户需求。在一六仪器**携全体员工热情欢迎各界人士垂询洽谈，共创一六仪器更加美好的未来。)