江苏一六仪器X荧光光谱测厚仪**涂镀层测厚应用领域：广泛应用于线路板、引线框架及电子元器件接插件检测、镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析、手表、精密仪表制造行业、钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB、汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测、卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)、电镀液的金属阳离子检测。江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们**的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名**通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪X荧光镀层测厚仪金属成分含量的测定在包含某种元素1的样品中，照射一次X射线，就会产生元素1的荧光X射线，不过这个时候的荧光X射线的强度会随着样品中元素1的含量的变化而改变。元素1的含量多，荧光X射线的强度就会变强。注意到这一点，如果预先知道已知浓度样品的荧光X射线强度，就可以推算出样品中元素1的含量。采用定量分析的时候，可以在样品中加入高纯度的二氧化硅，光谱分析仪，作为参比样，镀层分析仪，并且掺量是已知的。这样可以间接知道其他组分的含量。江苏一六仪器XTU系列XTU-BLX荧光光谱仪仪器规格：外形尺寸：550mmx660mmx470mm（长x宽x高）样品仓尺寸：500mm×660mm×215mm（长x宽x高）仪器重量：55kg供电电源：交流220±5V功率：330W环境温度：15℃-30℃环境相对湿度：<70%EDX是借助于分析试样发出的元素特征X射线波长和强度实现的，膜厚测试仪，根据不同元素特征X射线波长的不同来测定试样所含的元素。通过对比不同元素谱线的强度可以测定试样中元素的含量。通常EDX结合电子显微镜使用，测厚仪，可以对样品进行微区成分分析。常用的EDX探测器是硅渗锂探测器。当特征X射线光子进入硅渗锂探测器后便将硅原子电离，产生若干电子-空穴对，其数量与光子的能量成正比。利用偏压收集这些电子空穴对，经过一系列转换器以后变成电压脉冲供给多脉冲高度分析器，并计数能谱中每个能带的脉冲数。{测厚仪-江苏一六仪器有限公司-镀层分析仪由江苏一六仪器有限公司提供。江苏一六仪器有限公司拥有很好的服务与产品，不断地受到新老用户及业内人士的肯定和信任。我们公司是商盟认证会员，点击页面的商盟**图标，可以直接与我们**人员对话，愿我们今后的合作愉快！)