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涂层测厚仪-一六仪器(在线咨询)-湖州测厚仪
江苏一六仪器X射线荧光光谱仪XTU/X-RAY系列技术参数X射线装置:W靶微聚焦加强型射线管准直器φ0.05mm;φ0.1mm;φ0.2mm;φ0.5mm;准直器任意选择或者任意切换近测距光斑扩散度:9%测量距离:具有距离补偿功能,涂层测厚仪,可改变测量距离,能测量凹凸异型样品,变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)样品观察:1/2.5彩色CCD,变焦功能对焦方式高敏感镜头,手动对焦放大倍数:光学38-46X,数字放大40-200倍随机标准片:十二元素片、Ni/Fe5um、Au/Ni/Cu0.1um/2um其它附件:联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们**的研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名**通力合作,研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪X荧光涂镀层测厚仪测试原理同样,L层电子被逐出可以产生L系辐射。如果入射的X射线使某元素的K层电子激发成光电子后L层电子跃迁到K层,此时就有能量ΔE释放出来,且ΔE=EK-EL,这个能量是以X射线形式释放,产生的就是Kα射线,同样还可以产生Kβ射线,L系射线等。莫斯莱(H.G.Moseley)发现,荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关,其数学关系如下:λ=K(Z-s)-2这就是莫斯莱定律,式中K和S是常数,因此,只要测出荧光X射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,湖州测厚仪,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。一六荧光测厚仪十年以上研发团队集研发生产销售一体元素分析范围:氯(CI)-铀(U)厚度分析范围:各种元素及有机物一次可同时分析:23层镀层,24种元素厚度检出限:0.005umX射线荧光光谱测厚仪X射线的产生X射线波长略大于0.5纳米的被称作软X射线。波长短于0.1纳米的叫做硬X射线。产生X射线的简单方法是用加速后的电子撞击金属靶。撞击过程中,电子突然减速,其损失的动能(其中的1%)会以光子形式放出,测厚仪厂家,形成***光谱的连续部分,膜厚测试仪,称之为制动辐射。通过加大加速电压,电子携带的能量增大,则有可能将金属原子的内层电子撞出。于是内层形成空穴,外层电子跃迁回内层填补空穴,同时放出波长在0.1纳米左右的光子。由于外层电子跃迁放出的能量是化的,所以放出的光子的波长也集中在某些部分,形成了***谱中的特征线,此称为特性辐射。涂层测厚仪-一六仪器(在线咨询)-湖州测厚仪由江苏一六仪器有限公司提供。江苏一六仪器有限公司位于江苏省昆山市玉山镇成功路168号。在市场经济的浪潮中拼博和发展,目前一六仪器在专用仪器仪表中享有良好的声誉。一六仪器取得商盟认证,我们的服务和管理水平也达到了一个新的高度。一六仪器全体员工愿与各界有识之士共同发展,共创美好未来。)