江苏一六仪器XTU系列XTU-BLX荧光光谱仪仪器规格：外形尺寸：550mmx660mmx470mm（长x宽x高）样品仓尺寸：500mm×660mm×215mm（长x宽x高）仪器重量：55kg供电电源：交流220±5V功率：330W环境温度：15℃-30℃环境相对湿度：<70%EDX是借助于分析试样发出的元素特征X射线波长和强度实现的，根据不同元素特征X射线波长的不同来测定试样所含的元素。通过对比不同元素谱线的强度可以测定试样中元素的含量。通常EDX结合电子显微镜使用，可以对样品进行微区成分分析。常用的EDX探测器是硅渗锂探测器。当特征X射线光子进入硅渗锂探测器后便将硅原子电离，产生若干电子-空穴对，其数量与光子的能量成正比。利用偏压收集这些电子空穴对，泰州测厚仪，经过一系列转换器以后变成电压脉冲供给多脉冲高度分析器，并计数能谱中每个能带的脉冲数。{一六荧光测厚仪十年以上研发团队集研发生产销售一体元素分析范围:氯(CI)-铀(U)厚度分析范围:各种元素及有机物一次可同时分析:23层镀层，24种元素厚度检出限:0.005umX荧光测厚仪相关注意事项：仪器供电电压必须与仪器品牌上的电压一致.仪器三线插头必须连接到已接地的插座上。本仪器为精密仪器，电镀测厚仪，配备的稳压电源.计算机应配备不间断电源(UPS)。仪器应特别注意与存在电磁的场合隔离开来。为避免短路，严禁仪器与液体直接接触，如果液体进入仪器，请立即关闭仪器。本仪器不能用于酸性环境和场合。不要弄脏和刮擦调校标准片，否则会造成读数错误。不要用任何机械或化学的方法清除调校片上的脏物，可以用不起毛的布轻轻擦拭。一六仪器**测厚仪多道脉冲分析采集，**EFP算法X射线荧光镀层测厚仪应用于电子元器件，LED和照明，镀层分析仪，家用电器，光谱测厚仪，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准**决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题能量色散X荧光光谱仪定义及原理X射线荧光光谱仪是一种可以对多元素进行快速同时测定的仪器。试样受X射线照射后，其中各元素原子的内壳层（K，L或M层）电子被激发逐出原子而引起电子跃迁，并发射出该元素的特征X射线荧光。每一种元素都有其特定波长的特征X射线。能散型X射线荧光光谱仪（EDXRF）利用荧光X射线具有不同能量的特点，由探测器本身的能量分辨本领来分辨探测到的X射线。镀层分析仪-泰州测厚仪-江苏一六仪器有限公司由江苏一六仪器有限公司提供。行路致远，砥砺前行。江苏一六仪器有限公司致力成为与您共赢、共生、共同前行的战略伙伴，与您一起飞跃，共同成功!)