一六荧光测厚仪十年以上研发团队集研发生产销售一体元素分析范围:氯(CI)-铀(U)厚度分析范围:各种元素及有机物一次可同时分析:23层镀层，24种元素厚度检出限:0.005umX荧光测厚仪相关注意事项：仪器供电电压必须与仪器品牌上的电压一致.仪器三线插头必须连接到已接地的插座上。本仪器为精密仪器，配备的稳压电源.计算机应配备不间断电源(UPS)。仪器应特别注意与存在电磁的场合隔离开来。为避免短路，严禁仪器与液体直接接触，如果液体进入仪器，请立即关闭仪器。本仪器不能用于酸性环境和场合。不要弄脏和刮擦调校标准片，测厚仪，否则会造成读数错误。不要用任何机械或化学的方法清除调校片上的脏物，可以用不起毛的布轻轻擦拭。江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们**的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名**通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪一六仪器X荧光光谱测厚仪镀层分析X射线荧光光谱特点1.镀层分析快速、无损，对样品无需任何处理。一般测试一个点只需要数10S-1分钟，分析精度高。2.可测试超薄的镀层。3.可测试多镀层，分析精度远远高于其他测量方法。4.可分析合金镀层厚度。如果合金镀层成分稳定，光谱分析仪，选择合适的对比分析样品，就可以准确的分析出合金镀层的厚度。5.对于样品可进行连续多点测量，镀层测厚仪，适合分析镀层的厚度分布情况，并可以对样品的复杂面进行测量。6.对分析的多镀层每层之间的材料，要求有明显的区别7.不可以测试超厚样品，普通金属镀层总厚度一般不超过40微米。8.可以对样品进行测试9.属于对比分析仪器，测试不同的镀层样品需要不同发镀层标样一六仪器**测厚仪多道脉冲分析采集，**EFP算法X射线荧光镀层测厚仪应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准**决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，光谱测厚仪，是工业和科研使用广泛的测厚仪器。采用无损方法既不*坏覆层也不*坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。镀层测厚仪-测厚仪-一六仪器(查看)由江苏一六仪器有限公司提供。江苏一六仪器有限公司是一家从事“测厚仪,标准片”的公司。自成立以来，我们坚持以“诚信为本，稳健经营”的方针，勇于参与市场的良性竞争，使“江苏一六仪器”品牌拥有良好口碑。我们坚持“服务为先，用户至上”的原则，使一六仪器在专用仪器仪表中赢得了众的客户的信任，树立了良好的企业形象。特别说明：本信息的图片和资料仅供参考，欢迎联系我们索取准确的资料，谢谢！)