光谱膜厚仪-测厚仪-一六仪器有限公司(查看)
江苏一六仪器X荧光镀层测厚仪一六仪器、一liu品质!各种涂镀层、膜层的检测难题欢迎咨询联系!1X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管,光谱膜厚仪,Be窗标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-标准75W(4-50kV,0-1.5mA)-任选X射线管功率可编程控制装备有安全防射线光闸2滤光片程控交换系统根据靶材,标准装备有相应的一次X射线滤光片系统二次X射线滤光片:3个位置程控交换,Co、Ni、Fe、V等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选位置传感器保护装置,防止样品碰创探测器窗口3准直器程控交换系统多可同时装配6种规格的准直器,测厚仪,程序交换控制多种规格尺寸准直器任选:-圆形,如4、6、8、12、20mil等-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等4测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时,测量斑点尺寸小至为:0.078x0.055mm(使用0.025x0.05mm准直器)在12.7mm聚焦距离时,测量斑点尺寸大至为:0.38x0.42mm(使用0.3mm准直器)5X射线探测系统封气正比计数器装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路6样品室CMI900CMI950-样品室结构开槽式样品室开闭式样品室-样品台尺寸610mmx610mm300mmx300mm-XY轴程控移动范围标准:152.4x177.8mm任选:50.8mmx152.4mm50.4mmx177.8mm101.6x177.8mm177.8x177.8mm610mmx610mm300mmx300mm-Z轴程控移动高度43.18mmXYZ程控时,镀层测厚仪,152.4mmXY轴手动时,269.2mm-XYZ三轴控制方式多种控制方式任选:XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们**的研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名**通力合作,研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪X射线荧光光谱测厚仪原理一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为(10)-12-(10)-14s,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁,也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时,所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子,测厚仪厂家,此称为俄歇效应,亦称次级光电效应或无辐射效应,所逐出的次级光电子称为俄歇电子。它的能量是特征的,与入射辐射的能量无关。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收,而是以辐射形式放出,便产生X射线荧光,其能量等于两能级之间的能量差。因此,X射线荧光的能量或波长是特征性的,与元素有一一对应的关系。K层电子被逐出后,其空穴可以被外层中任一电子所填充,从而可产生一系列的谱线,称为K系谱线:由L层跃迁到K层辐射的X射线叫Kα射线,由M层跃迁到K层辐射的X射线叫Kβ射线……。一六荧光测厚仪十年以上研发团队集研发生产销售一体元素分析范围:氯(CI)-铀(U)厚度分析范围:各种元素及有机物一次可同时分析:23层镀层,24种元素厚度检出限:0.005umX荧光测厚仪可调整测量位置,非常敏捷快速。或是测量位置已完成登陆时,可连续自动测定,利用座标补正、连结频道,来应付各种测量轨迹。亦可用自动测定来作标准片校正。测定部显示尽像的表示:***照射部可由WINDOWS画面上取得照射部的表示。从准仪照射测定物的位置,可由倍率率更机能来实现尽面上测出物放大。。。光谱膜厚仪-测厚仪-一六仪器有限公司(查看)由江苏一六仪器有限公司提供。光谱膜厚仪-测厚仪-一六仪器有限公司(查看)是江苏一六仪器有限公司升级推出的,以上图片和信息仅供参考,如了解详情,请您拨打本页面或图片上的联系电话,业务联系人:邓女士。)